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                                                                           強光自動保護技術

 

 

微光攝像管在強光照射下,或在高照度環境下長時間地工作,都將導致攝像管的損壞。即使是SIT型攝像管,也同樣容易受到損壞。導致損壞的原因有:高能電子轟擊靶而損壞;離子轟擊光電陰極而損壞。

 

靶的損壞,除了與照明強度和時間有關系之外,還取決于轟擊硅靶的光電子能量的大小。亦即當攝像管處于高靈敏狀態時,最容易被強光燒傷。過曝光將引起靶上的轟擊點的暗電流,永久性地增加。光電陰極的損壞,是正離子的轟擊所造成。這些正離子是由于   光電子和殘留氣體分子之間的碰撞而產生的。它們被光電陰極的負高壓加速,并轟擊光電陰極面。在正常情況下,光電子數達不到能夠產生損壞光電陰極的離子數,只有當光電陰極電流過大時,才有可能達到損壞光電陰極的離子數。
離子的產生是光子數目的函數,而不是它的能量的函數。即使在圖像增強部分加上一個小電壓(可低至100V),由于光照的結果,仍會產生光電子流。因此唯一可靠的保護光電陰極的方法,就是完全去掉光電陰極的電壓或限制光輸入量。由離子轟擊損壞光電陰極的結果,使圖像中心部分有一個界限不清的暗區。此暗區就是降低了光電靈敏度的區域。
    

   因此,微光攝像機都有強光自動保護電路。其功能是檢測投射到光電陰極面上的照度。當面板照度高于予調好的照度時,高壓自動切斷直到入射減至安全限制時,才又重新加到光電陰極上。

 

另一種方法是監測電子束流的大小,當掃描電子束很小時,光電陰極的高壓自動關閉,以保護靶的安全,當電子束流恢復正常之后,高壓又可自動接通。


 

 

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